3.6硬盘缺陷
1．缺陷的分类
如果经检测发现某个硬盘不能完全正常工作，则称这个硬盘是“有缺陷的硬盘”（Defect Hard DiSk）。
根据维修经验，将硬盘的缺陷分为如下六大类：
①坏扇区，也称缺陷扇区；
②磁道伺服缺陷；
③磁头组件缺陷；
④系统信息错乱；
⑤电子线路缺陷；
⑥综合性能缺陷。
（1）坏扇区。
坏扇区是指不能被正常访问或不能被正确读写的扇区。一般表现为：高级格式化后发现有“坏簇（Bad Clusters）；用SCANDISK等工具检查发现有“B”标记；或用某些检测工具发现有“扇区错误提示”等。
一般每个扇区可以记录512B的数据，如果其中任何一个字节不正常，该扇区就属于缺陷扇区。每个扇区除了记录512B的数据外，另外还记录有一些信息，如标志信息、校验码、地址信息等，其中任何一部分信息不正常都导致该扇区出现缺陷。
多数专业检测软件在检测过程中发现缺陷时，都有类似的错误信息提示，常见的扇区缺陷主要有以下几种情况。
①校验错误（ECC uncorrectable errors），又称ECC错误。系统每次在往扇区中写数据的同时，都根据这些数据经过一定的算法运算生成一个校验码，并将这个校验码记录在该扇区的信息区内。之后从这个扇区读取数据时，都会同时读取其校检码，并对数据重新运算以检查结果是否与校检码一致。如果一致，则认为这个扇区正常，存放的数据正确有效；如果不一致，则认为该扇区出错，这就是校验错误。这是硬盘最主要的缺陷类型。导致这种缺陷的原因主要有磁盘表面磁介质损伤、硬盘写功能不正常、校验码的算法差异。
② IDNF错误（sector ID Not found），即扇区标志出错，造成系统在需要读写时找不到相应的扇区。造成这个错误的原因可能是系统参数错乱，导致内部地址转换错乱，系统找不到指定扇区；也有可能是某个扇区记录的标志信息出错导致系统无法正确辨别扇区。
③ AMNF错误（Address Mark Not Found），即地址信息出错。一般是由于某个扇区记录的地址信息出错，系统在对它访问时发现其地址信息与系统编排的信息不一致。
④环块标记错误（Bad block mark）。某些软件或病毒程序可以在部分扇区强行写上坏块标记，让系统不使用这些扇区。这种情况严格来说不一定是硬盘本身的缺陷，但想清除这些坏块标记却不容易。
（2）磁道伺服缺陷。现在的硬盘大多采用嵌入式伺服，硬盘中每个正常的物理磁道都嵌入有一段或几段信息作为伺服信息，以便磁头在寻道时能准确定位及辨别正确编号的物理磁道。如果某个物理磁道的伺服信息受损，该物理磁道就可能无法被访问。磁道伺服缺陷一般表现为，分区过程非正常中断；格式化过程无法完成；用检测工具检测时，中途退出或死机，等等。
（3）磁头组件缺陷。指硬盘中磁头组件的某部分不正常，造成部分或全部物理磁头无法正常读写的情况。包括磁头磨损、磁头接触面脏、磁头摆臂变形、音圈受损、磁殊移位等。一般表现为：通电后，磁头动作发出的声音明显不正常，硬盘无法被系统BIOS检测到；无法分区格式化：格式化后发现从前到后都分布有大量的坏簇，等等。
（4）系统信息错乱。每个硬盘内部都有一个系统保留区（Service Area），里面分成若干模块保存有许多参数和程序。硬盘在通电自检时，要调用其中大部分程序和参数。如果能读出那些程序和参数模块，而且校验正常的话，硬盘就进入准备状态。如果某些模块读不出或校验不正常，则该硬盘就无法进入准备状态。一般表现为，PC系统的BIOS无法检测到该硬盘，或检测到该硬盘却无法对它进行读写操作。例如，某些系列硬盘的常见问题：美钻二代系列硬盘通电后，磁头响一声，马达停转；富士通MPG系列在通电后，磁头正常寻道，但BIOS却检测不到。
（5）电子线路缺陷。指硬盘的电子线路板中部分线路断路或短路，某些电气元件或IC芯片损坏等。有部分可以通过观察线路板发现缺陷所在，有些则要通过仪器测量后才能确认缺陷部位。一般表现为硬盘在通电后不能正常起转，或者起转后磁头寻道不正常，等等。
（6）综合性能缺陷。有些硬盘在使用过程中部分芯片特性改变：或者有些硬盗：受振动后物理结构产生微小变化（如马达主轴受损）；或者有些硬盘在设计上存在缺陷……最终导致硬盘稳定性差，或部分性能达不到标准要求。一股表现为：工作时噪音明显增大：读写速度明显太慢：同一系列的硬盘大量出现类似故障；某种故障时有时无，等等。
2．厂家处理缺陷的方式
下面介绍硬盘工厂的一些基本处理流程。
（1）在生产线上装配硬盘的硬件部分，用特别设备往盘片写入伺服信号（Servo write）。
（2）将硬盘的系统保留区（service areg）格式化，并向系统保留区写入程序模块和参数模块。系统保留区一般位于硬盘0物理面的最前面几十个物理磁道。写入的程序模块一般用于硬盘内部管理，如低级格式化程序、加密解密程序、自监控程序、自动修复程序等。写入的参数有型号、系列号、容量、口令、生产厂家与生产日期、区域分配表、缺陷表、出错记录、使用时间记录、S. M. A. R. T表等，数据量从几百KB到几MB不等。有时参数一经写入就不再改变，如型号、系列号、生产时间等：而有些参数则可以在使用过程中，由内部管理程序自动修改，如出错记录、使用时间记录、S. M. A. R. T记录等。
（3）将所有使用的盘片表面按物理地址全面扫描，检查出所有的缺陷磁道、缺陷扇区，并将这些缺陷磁道和缺陷扇区按实际物理地址记录在永久缺陷列表（P-list ;Permanent defect litst）中。这个扫描过程非常严格，能把不稳定、不可靠的磁道和扇区也检查出来，视同缺陷一并处理。现在的硬盘密度极高，盘片生产过程再精密也很难完全避免缺陷磁道或缺陷扇区。一般新硬盘的P-List中都有数十个乃至上万个缺陷记录。P-list是保留在系统保留区中，一般用户是无法查看或修改的。
低级格式化过程中，对所有的磁道和扇区进行编号、信息重写、消零等工作。在编号时，采用跳过（skipped）的方法忽略掉记录在P-list中陷磁道和缺陷扇区，保证以后不会也不能使用到这些缺陷磁道和缺陷扇区。因此，新硬盘在出售时是无法被检测到缺陷的。
3．在磁盘上的磁道和扇区
磁道是磁盘一个面上的单个数据存储圆圈。如果将磁道作为一个存储单元，从数据管理效率来看实在是太低了，因此，磁道被分成若干个编上号的区域，称之为扇区。这些扇区代表了磁道的分段。在PC系统中，通过标准格式化的程序产生的扇区容量都为512B。注意“扇区”与“簇”的关系，“簇”是操作系统在读或写一个文件时能处理的最小磁盘单元，一个簇等于一个或多个扇区。
